5G領航企業

整合大數據分析的AiP量測技術

AiP整合天線與晶片的優點雖然能有效降低路徑能量損失並動態控制波束，但也衍生了技術與成本上的挑戰，就是： (1)、高度整合在產品有Bug時難以釐清問題所在，所以需要有探針式饋入量測的設備MW5 (至高頻科技的設備)在尚未打IC的階段就能先行量測天線板上的子天線輻射效能。 (2)、龐大的測試時間，原因在於天線是以陣列的形式呈現，所以數量上是指數倍增動輒千片，再加成上5G的寬頻帶特性需量測頻率點遽增，傳統對每一天線且全頻進行OTA量測的方式必然阻礙研發及產測，甚至多家研發公司彼此競爭且量測資源有限，即使願意付出高昂的測試費用也不一定能排到足夠的測試時間。 (3)、龐大的量測數據已無法採人工檢視的模式分析出關聯性。 為解決以上問題，本計畫專題預計尋找對數值分析、控制系統及OTA測試有興趣的研習生一起來解決以上問題，實現將OTA量測大數分析科學導入量測選擇的技術，達到根據既有之量測數據分析找出一片AiP板上眾多的天線中有那幾個是必須優先量測的關鍵天線，並透過這幾個關鍵天線的被測數值以決定，或者，透過已量測之數據變異量去分析AiP板材的均勻性。

申請員額：5人， 媒合人數： 4人 。